Univ Tokyo’s IC chip: パワー半導体を自動制御! contrôle automatique des semi-con de puissance ! Automatische Steuerung von Leistungshalbleitern! Automatic control of power semiconductors! 功率半導體的自動控制!

Univ Tokyo’s IC chip: パワー半導体を自動制御!
contrôle automatique des semi-con de puissance !
Automatische Steuerung von Leistungshalbleitern!
Automatic control of power semiconductors!
功率半導體的自動控制!

ー1チップで、パワー半導体回路の損失を削減ー

NEDO
東京大学生産技術研究所

2023年3月23日

ー1チップで、パワー半導体のエネルギー損失を削減するー

「自動波形変化ゲート駆動ICチップ」を開発しました。

「自動波形変化ゲート駆動ICチップ」とは:

本ICチップ上には、

  • 出力電流を切り替えるゲート駆動回路、
  • 電流切替時期を決定するセンサー回路、
  • 電流波形を変化させる制御回路、

三つを搭載しています。

エネルギー損失を削減する回路:

本ICチップは、

「パワー半導体のゲート端子を駆動する電流波形」を、自動で最適なタイミングに制御します。

これにより、エネルギー損失を削減する回路を実現しました。

本ICチップとパワー半導体:

ー組み合せ試験の結果ー

「本ICチップと、パワー半導体の組み合わせ試験」を実施の結果、

600V、80Aの条件下で、「エネルギー損失を、49%削減できること」を確認しました。

ニュース | NEDO

https://www.nedo.go.jp/news/press/AA5_101618.html

Puce IC de l’Université de Tokyo : contrôle automatique des semi-conducteurs de puissance !

-Réduire la perte de puissance du circuit semi-conducteur avec une seule puce-

NÉDO
Institut des sciences industrielles, Université de Tokyo

23 mars 2023

-Réduire les pertes d’énergie dans les semi-conducteurs de puissance avec une seule puce-

Nous avons développé une “puce IC d’entraînement de grille de changement de forme d’onde automatique”.

“Puce IC d’entraînement de porte de changement de forme d’onde automatique”:

Sur cette puce IC,

un circuit de commande de grille qui commute le courant de sortie ;
un circuit capteur qui détermine quand commuter le courant ;
un circuit de commande qui modifie la forme d’onde du courant,
Il en porte trois.

Circuits pour réduire les pertes d’énergie :

Cette puce IC est

Il contrôle automatiquement la “forme d’onde de courant qui pilote la borne de grille du semi-conducteur de puissance” à la synchronisation optimale.

Cela a réalisé un circuit qui réduit la perte d’énergie.

Cette puce IC et semi-conducteur de puissance :

-Résultats des tests combinés-

À la suite du “test combiné de cette puce IC et semi-conducteur de puissance”,

Nous avons confirmé que “la perte d’énergie peut être réduite de 49%” dans les conditions de 600V et 80A.

Actualités |

IC-Chip der Universität Tokio: Automatische Steuerung von Leistungshalbleitern!

-Verringern Sie den Verlust von Leistungshalbleiterschaltungen mit einem einzigen Chip-

NEDO
Institut für Industriewissenschaften, Universität Tokio

23. März 2023

-Reduzierung des Energieverlusts in Leistungshalbleitern mit einem einzigen Chip-

Wir haben einen “Gate-Treiber-IC-Chip mit automatischer Wellenformänderung” entwickelt.

“Automatischer Wellenformänderungs-Gate-Treiber-IC-Chip”:

Auf diesem IC-Chip

eine Gate-Treiberschaltung, die den Ausgangsstrom umschaltet;
eine Sensorschaltung, die bestimmt, wann der Strom umgeschaltet werden soll;
eine Steuerschaltung, die die Stromwellenform ändert,
Es trägt drei.

Schaltungen zur Reduzierung von Energieverlusten:

Dieser IC-Chip ist

Es steuert automatisch die “Stromwellenform, die den Gate-Anschluss des Leistungshalbleiters ansteuert” auf das optimale Timing.

Dadurch wurde eine Schaltung realisiert, die den Energieverlust reduziert.

Dieser IC-Chip und Leistungshalbleiter:

-Kombinationstestergebnisse-

Als Ergebnis des “Kombinationstests dieses IC-Chips und Leistungshalbleiters”,

Wir haben bestätigt, dass „der Energieverlust um 49 % reduziert werden kann“ unter den Bedingungen von 600 V und 80 A.

Nachrichten | NEDO

Like Flipping the Switch

– Institute of Industrial Science,the University of Tokyo

Many homes have electronic timers
for automatically turning lights on or off automatically the same time each day.

However,
the precise control of larger electrical devices requires more sophisticated electronics.

Scientists from the Institute of Industrial Science at The University of Tokyo

have successfully developed a programmable gate driver

for solid-state electronic transistor switches, and using empirical tests, show that their device showed reduced switching loss even under changes in input current and temperature fluctuations.

Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
are semiconductor electronic elements that can be used in rapid electronic switches of high-powered devices.

Because they can control electric loads up to hundreds of kilowatts,

IGBTs are suitable for operating of power supplies, traction motors, or induction heaters.

In addition, owing to their ability to switch on and off quickly, IGBTs can also be used for control systems in industrial applications.

However, these switches can experience switching loss based on variations in the input current or temperature.

Creating a device with automatic timing would help improve the reliability of these systems.

Now, the team of researchers at The University of Tokyo has developed

the first active digital gate driver integrated circuit (IC) with a fully integrated automatic timing control function that achieves both single-chip integration and real-time control.

“Our IC includes the world’s first 6-bit programmable gate with closed-loop active gate drivers,” first author Dibo Zhang says.

An important feature of the IC
was the inclusion of real-time automatic control functions on a single chip.

This is done by detecting the rate of change of the current

as a function of time by sensing the voltage of the parasitic inductance, which is an unavoidable effect present in electronic devices.

The research team tested
the performance of the new device over a wide range of temperatures.

Their single-chip integration of a timing mechanism allowed for lower cost while maintaining precise control.

The fact that it remained stable under fluctuating operating conditions
allowed a single programmable device to replace a collection of different products optimized for different situations.

“Being able to provide programmable, real-time control at low cost should hasten adoption of this type of device,” says Makoto Takamiya, senior author.

This work may lead to more flexible and reliable control of large electrical currents,

and future designs may be extended to include more complex programming features.

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The article, “Digital Gate Driver IC with Fully Integrated Automatic Timing Control Function in Stop-and-Go Gate Drive for IGBTs” was presented at IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC).

https://www.iis.u-tokyo.ac.jp/en/news/4153/