テスラ：半導体不良で16万台リコール：eMMC･NANDフラッシュメモリー（動画）：
Tesla: Recall 160,000 due to defective semicon: eMMC/NAND flash memory:
特斯拉：由于半导体故障：eMMC / NAND闪存召回160,000单位
Tesla: Recall 160,000 due to defective semiconductor: eMMC､NAND
ーNHTSA､テスラへリコールを要請ー
Office of Defects Investigation（ODI）：
テスラ幹部に対して書簡を送付し、今回の問題原因を指摘した。
問題原因として指摘：
モデルSおよびモデルXのIVIに、不良の原因あり。
「MCU（Media Control Unit）」内にある、「eMMC対応のNANDフラッシュメモリー」である。
- P／Eサイクル（書き換え回数）が3000回で、
- データの書き換えを、繰り返すうちに、
- 5～6年で寿命（書き換え上限）が尽きる。
この寿命が、MCUの不具合につながると指摘している。
MCUの不具合：
MCUはIVIであるため、自動車の「走る・曲がる・止まる」に直接影響しない。
ただし、MCUに不具合があれば「安全性に支障がでる」
リアビュー・カメラ：
後方確認用（リアビュー）カメラの映像を運転手が確認できなくなることを指摘している。
テスラのボディー制御：
テスラは、車両のボディーの制御のほぼすべてを、MCUが持つタッチパネル式ディスプレーを通じて行う。
空調システム（HVAC）操作：
空調には、専用の物理ボタンがなく、ディスプレーを通じて操作する。
MCUが動かなくなると、空調システム（HVAC）を操作できない。
フロントガラスの曇り止め・霜取りできず、事故の危険性が高まると指摘している。
MCUの不具合によって、
- ADAS（先進運転支援システム）や、
- 方向転換時におけるアラートなどで、
- 事故の危険性が高まる。
ウインカー音（blinker sounds）やドライバーに対する警告音が鳴らなくなる。
日経クロステック（xTECH）
https://xtech.nikkei.com/atcl/nxt/column/18/00141/012100113/
テスラに米当局からリコール要請、半導体が原因で約16万台 | 日経クロステック（xTECH）