东京电子:宏检查设备“ RAYSENS”的销售开始:外观检查/抽样检查自动化

东京电子:宏检查设备“ RAYSENS”的销售开始:外观检查/抽样检查自动化

东京电子:

公布日期:2020年6月9日

-自动化外观检查和抽样检查,以减少检查工时并稳定晶片质量-

装置(TED):

我们将开发“ RAYSENS”的销售,这是一种宏检测设备,可以高速,高灵敏度地检测化合物半导体晶片表面上的缺陷。

从2020年6月9日开始出售。

日本经济新闻

https://www.nikkei.com/nkd/company/article/?DisplayType=11&ng=DGXLRSP535444_Z00C20A6000000&scode=2760&ba=1

宏观检查装置:RAYSENS

特性

超低噪声宏观光学传感器:专用照明以高灵敏度检测晶片表面/微小变化
专用光学元件,集成软件:高效的装载机实现高产量
透明(半透明)晶圆:可以进行广泛的检查
图案化的裸晶片:可以进行两种检查
专用集成应用程序:可以无缝执行设备控制,图像捕获和判断
进行最终外观检查:晶片正面/背面/非接触式转移检查可抑制晶片背面/污染问题

产品规格:

晶圆尺寸:200毫米(兼容开放式暗盒)

像素大小:7μm,14μm,28μm,50μm

照明LED均匀线照明
高强度光纤照明
晶圆转移方法
输送机装载机规格
应用光学单元的集成控制,
机械零件集成控制,
图像扫描
图像处理功能,用于宏检查
缺陷检测判断功能
电离器
HEPA过滤器

inrevium |东京电子仪器

https://www.inrevium.com/product/macro_optical_inspection/