東北大：GaNウェハ検査技術確立：発光効率計測（全方位フォトルミネセンス法）： Tohoku Univ:GaN wafer inspection: luminous efficiency omnidirectional photoluminescence： 东北大学：GaN晶圆检测技术的建立：发光效率测量方法（全向光致发光法） 2019年05月29日By Tokio X'press LSI, Semi conductor, Diode
