💡NEC、良品データの学習のみで不良品を検出するAIを製品化
～「NEC Advanced Analytics – RAPID機械学習」を強化～
2018年5月8日
日本電気株式会社
NECは、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現する、NECのAI技術群「NEC the WISE」(注1)の1つであるディープラーニング(深層学習)技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics – RAPID機械学習」を強化し、本日より販売活動を開始します。
「NEC Advanced Analytics – RAPID機械学習」は、高精度な画像認識やデータ関連性の分析を行う軽量・高速なAIエンジンとして、工場ラインでの検品業務などに活用されていますが、今回新たに、良品データのみで学習可能なOneClass分類アルゴリズム(注2)を導入することにより、製造品質が高く不良品データを入手しにくい製造業においても、検品業務にAIが適用可能となりました。
これにより、大量生産の工場ラインにおいて、長時間かつ均一な判断を求められる検品業務の効率化が可能となり、企業のDX(デジタルトランスフォーメーション)の実現に貢献します。
https://jpn.nec.com/press/201805/20180508_01.html
NEC Launches System Invariant Analysis Technology Package for AI Engines