AIST: Succeeded in high-speed shape measurement by pattern projection under direct sunlight
~ National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology Intelligent Systems Research Division Computer Vision Research Group Yutaka Sato Group Director Yoshitaka Sagawa, Sagawa Sachiko Industrial Technology Planning Surveyor accurately detects the pattern (pattern) projected from the light source to the object even in environments with strong ambient light such as direct sunlight Then we developed a method to measure the shape of an object that moves and deforms at high speed. The details of this technology will be announced at the IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR 2017) to be held in Honolulu, USA from 21 to 26 July 2017.
産総研：直射日光下でのパターン投影による高速形状計測に成功
〜 国立研究開発法人 産業技術総合研究所（以下「産総研」という）知能システム研究部門コンピュータビジョン研究グループ 佐藤 雄隆 研究グループ長、佐川 立昌 産業技術企画調査員は、直射日光のような強い外乱光がある環境でも、光源から対象物に投影した模様（パターン）を正確に検出して、高速に運動・変形する物体の形状を計測する手法を開発した。 なお、この技術の詳細は、2017年7月21～26日に米国ホノルルで開催されるIEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR2017)で発表される。
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2017/pr20170714/pr20170714.html