テスラ:半導体不良で16万台リコール:eMMC・NANDフラッシュメモリー(動画):
Tesla: Recall 160,000 due to defective semicon: eMMC/NAND flash memory:
特斯拉:由于半导体故障:eMMC / NAND闪存召回160,000单位
Tesla: Recall 160,000 due to defective semiconductor: eMMC、NAND
ーNHTSA、テスラへリコールを要請ー
Office of Defects Investigation(ODI):
テスラ幹部に対して書簡を送付し、今回の問題原因を指摘した。
問題原因として指摘:
モデルSおよびモデルXのIVIに、不良の原因あり。
「MCU(Media Control Unit)」内にある、「eMMC対応のNANDフラッシュメモリー」である。
- P/Eサイクル(書き換え回数)が3000回で、
- データの書き換えを、繰り返すうちに、
- 5~6年で寿命(書き換え上限)が尽きる。
この寿命が、MCUの不具合につながると指摘している。
MCUの不具合:
MCUはIVIであるため、自動車の「走る・曲がる・止まる」に直接影響しない。
ただし、MCUに不具合があれば「安全性に支障がでる」
リアビュー・カメラ:
後方確認用(リアビュー)カメラの映像を運転手が確認できなくなることを指摘している。
テスラのボディー制御:
テスラは、車両のボディーの制御のほぼすべてを、MCUが持つタッチパネル式ディスプレーを通じて行う。
空調システム(HVAC)操作:
空調には、専用の物理ボタンがなく、ディスプレーを通じて操作する。
MCUが動かなくなると、空調システム(HVAC)を操作できない。
フロントガラスの曇り止め・霜取りできず、事故の危険性が高まると指摘している。
MCUの不具合によって、
- ADAS(先進運転支援システム)や、
- 方向転換時におけるアラートなどで、
- 事故の危険性が高まる。
ウインカー音(blinker sounds)やドライバーに対する警告音が鳴らなくなる。
日経クロステック(xTECH)
https://xtech.nikkei.com/atcl/nxt/column/18/00141/012100113/
テスラに米当局からリコール要請、半導体が原因で約16万台 | 日経クロステック(xTECH)