东京工业大学:开发新型MEMS传感器:检测加速度1μG

东京工业大学:开发新型MEMS传感器:检测加速度1μG

2019年8月14日

NTT先进技术/东京工业大学

我们开发了一种可以检测1μG加速度的MEMS传感器。

一种新型MEMS加速度传感器,具有低噪声和高灵敏度。

特点:性能

使用由多个金属层形成的层压金属结构。

与相同尺寸的传感器相比,噪声小于1/10,灵敏度大于100倍。

应用领域:

医疗保健
基础设施诊断
移动控制,
预计将与机器人一起使用。

MONOist

https://monoist.atmarkit.co.jp/mn/spv/1908/14/news037.html