💡AIST：用于薄膜晶体管阵列检测的高速大面积检测技术
– 通过印刷方法制造的显示器等驱动电路的非破坏性在线检测 –
点
通过光学成像非破坏性地集体检查薄膜晶体管（TFT）阵列的驱动状态的技术显着改进
显示器和其他信息输出设备TFT和存储电容器在3分钟内立即被检查30,000个元素
实现印刷方式制造的大面积设备的在线检查，有助于提高质量
这项技术的细节将于2018年1月15日（当地时间）发表在有机电子，欧洲科学杂志上。
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2018/pr20180115/pr20180115.html